阻抗分析仪IM7580A
型号: | IM7580A | 品牌: | HIOKI(日置) | 产地: | 上海 |
产品介绍
● 测量频率1MHz~300MHz ● 测量时间:最快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 测量方式:RF I-V法 ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定) ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量 基本参数 测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
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测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
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显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
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基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
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测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
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测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
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输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
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显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
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测量时间 | 最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
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功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
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接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
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电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
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附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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日置(上海)测量技术有限公司电话: 点击&查看18026282197联系人: 销售地址: 上海市黄浦区西藏中路268号来福士广场4705室
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