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扫描型紫外可见分光光度计TUV756
扫描型紫外可见分光光度计TUV756图片
型号:TUV756
产地:上海


产品介绍

扫描型紫外可见分光光度计 TUV756 仪器特点:
1. 采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统,使仪器光源切换更快速。
2. 精确的2nm带宽,使测试数据更准确。使用进口长寿命光源,使仪器光源切换更快速。
3.特有的波长控制系统,使波长精度更高。改良的光学系统,使测试更准确。
4.采用进口的光电转换器,使仪器的灵敏度更高。
5.新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更简便,稳定性也很好。
6.仪器采用128*64位点阵液晶显示器,可直接显示标准曲线和测试数据,主机可存储测试数据,并可选配打印机;
UV756CRT型紫外可见分光光度计在UV756的基础上增加了全波段自动扫描功能和连接微机功能。
扫描型紫外可见分光光度计 TUV756 仪器参数:
波长范围:190-1100nm
波长准确度:±0.5nm
波长重复性:0.2nm
光谱带宽:2nm
透射比准确度:±0.5%T
透射比重复性:0.2%T
光度范围:-3~3A ,0-200%T,0~9999C
基线平直度:±0.001A/h
杂散光:0.05%T@220nm、360nm
稳定性:±0.001A/小时 @500nm
显示方式:128*64位点阵液晶显示
Rs232通讯:USB接口
打印机:选配
分析软件:支持
自动八联比色池:选配
光学系统:双光束比例监测
噪声水平:±0.001A/2min@500nm


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上海佑科仪器仪表有限公司
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地址: 上海市奉贤区青灵路228号
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