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资料名称
高分辨率3D计算机断层扫描系统FF20 CT
资料摘要
FF20 CT计算机断层扫描系统设计用于实现高精度的最佳三维检测结果。无论对于研发、缺陷分析、过程监控还是CT计量而言,FF20 CT 都非常适合用于检测电子业和材料科学行业的各种小型/最小型零部件。 (请登录www.analysis-tech.com获取更多信息)
资料文件
高分辨率3D计算机断层扫描系统FF20 CT.pdf
文件大小:
237
KB
发布日期
2020.03.06
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产品分类
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